深圳薄膜測(cè)厚儀廠家介紹，測(cè)厚儀已廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)，有的已在大規(guī)模生產(chǎn)線上投入應(yīng)用，取得了較好的效果，有的測(cè)厚儀正在進(jìn)一步完善中，以發(fā)揮更大的威力功能。

　　根據(jù)測(cè)厚儀工作方式的不同，測(cè)厚方式一般分為非接觸式測(cè)厚和接觸式測(cè)厚。根據(jù)厚度測(cè)量的原理，測(cè)厚儀一般有以下幾種。

　　1.1激光測(cè)厚

　　深圳薄膜測(cè)厚儀廠家表示，激光測(cè)厚是一種典型的非接觸測(cè)厚，其原理是利用光電成像技術(shù)。引入激光作為測(cè)量工具，大大提高了測(cè)量系統(tǒng)的靈敏度和精度，充分利用激光方向性好、亮度高的優(yōu)點(diǎn)，構(gòu)建光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，達(dá)到測(cè)量厚度的目的。激光測(cè)厚采用差分測(cè)量法，利用兩個(gè)激光位移傳感器，用準(zhǔn)直激光束上下照射被測(cè)板材，由CCD(電荷耦合器件)成像。將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，電信號(hào)經(jīng)相應(yīng)模塊處理后送至CPU。經(jīng)過(guò)計(jì)算，得到被測(cè)物體上表面到激光傳感器的距離和物體下表面到傳感器的距離，最 后通過(guò)兩個(gè)測(cè)量值和兩個(gè)傳感器。之間的距離值可以計(jì)算出物體的厚度。

　　激光測(cè)厚法適用于鋼板、鋼帶等一些非透明材料的在線高速測(cè)厚。特別適用于環(huán)境極其惡劣的熱軋鋼生產(chǎn)線的在線測(cè)量和軋制厚度控制。

　　1.2射線厚度測(cè)量

　　射線厚度測(cè)量也是一種非接觸式厚度測(cè)量。其原理是利用射線的強(qiáng)穿透力和穿透被測(cè)物體后強(qiáng)度的衰減來(lái)測(cè)量物體的厚度。目前，X射線主要用于工業(yè)生產(chǎn)。測(cè)厚儀和伽馬射線測(cè)厚儀。X射線測(cè)厚原理如圖1所示，當(dāng)一束X射線通過(guò)被測(cè)物體時(shí)，會(huì)發(fā)生衰減。衰減的強(qiáng)弱與被測(cè)物體的厚度和材質(zhì)有關(guān)。射線源發(fā)出一束強(qiáng)度為I0的射線，通過(guò)被測(cè)物體的吸收，到達(dá)另一側(cè)傳感器的強(qiáng)度為I。

　　1.3紅外測(cè)厚

　　深圳薄膜測(cè)厚儀廠家表示，紅外測(cè)厚主要用于薄膜生產(chǎn)，也是一種非接觸測(cè)厚。對(duì)于特定材料的薄膜，其吸收紅外光的能力隨波段的不同而不同。某些波段的紅外光很容易被吸收。，而有些波段的紅外光不易被吸收，因此紅外光譜線上會(huì)有波峰和波谷。對(duì)各種薄膜進(jìn)行光譜分析，選擇最常見、干擾最少的波段的紅外光作為光源。紅外測(cè)厚法一般分為兩種，利用光反射原理的紅外反射法和利用光衰減和吸收原理的紅外透射法。反射式厚度測(cè)量已被廣泛應(yīng)用。其次，薄膜的厚度與光能衰減程度呈正相關(guān)。被測(cè)薄膜越厚，紅外光的能量衰減越強(qiáng)，被薄膜反射回來(lái)的能量越少。通過(guò)檢測(cè)反射信號(hào)強(qiáng)度，根據(jù)反射信號(hào)強(qiáng)度與薄膜厚度之間的函數(shù)關(guān)系來(lái)確定待測(cè)薄膜的厚度。

　　1.4渦流測(cè)厚

　　渦流測(cè)厚法主要用于鍍層測(cè)厚，測(cè)量導(dǎo)電物體表面非導(dǎo)電鍍層的厚度。渦流測(cè)量的原理是將交流信號(hào)加到測(cè)量探頭的線圈上，產(chǎn)生電磁場(chǎng)。當(dāng)導(dǎo)體靠近測(cè)量探頭時(shí)，會(huì)產(chǎn)生渦流。測(cè)量探頭離導(dǎo)體越近，渦流越大，反射阻抗也越大。反饋?zhàn)杩沟拇笮”碚髁颂筋^與導(dǎo)電基板之間的距離，即導(dǎo)電材料上非導(dǎo)電涂層的厚度。這個(gè)交流激勵(lì)信號(hào)一定是高頻的，高頻時(shí)應(yīng)該是電導(dǎo)率與電感的比值。的影響可以忽略不計(jì)，電感分量主要受距離變化的影響。當(dāng)鍍層材料具有一定的電導(dǎo)率時(shí)，也可以通過(guò)標(biāo)定來(lái)測(cè)量，但要求基體和鍍層的電導(dǎo)率至少相差3~5倍，渦流測(cè)厚儀才能有效檢測(cè)有色金屬、油漆、噴塑、橡膠等涂層表面的氧化膜，分辨率可達(dá)0.1μm，誤差1%，測(cè)量范圍可達(dá)10mm級(jí)。

　　1.5超聲波測(cè)厚

　　深圳薄膜測(cè)厚儀廠家表示，超聲波測(cè)厚是一種典型的接觸測(cè)厚。使用時(shí)，超聲波探頭需要通過(guò)偶聯(lián)劑與被測(cè)物體接觸。超聲波測(cè)厚有共振式和脈沖式兩種。共振測(cè)厚的原理是超聲波探頭向物體發(fā)射入射波。當(dāng)被測(cè)物體厚度為半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，入射波與反射波同相，在被測(cè)工件中產(chǎn)生駐波，引起共振,最 后由共振頻率可以得到待測(cè)工件對(duì)應(yīng)的厚度,但這種測(cè)厚方法操作復(fù)雜,需要不斷改變超聲波的頻率來(lái)求得波長(zhǎng).發(fā)生共振。另外，這種方法的測(cè)量誤差比較大。